晶振生产的真空度,没有单一标准值,具体要求取决于具体的生产工序。不同环节为实现不同目标,所需的真空度级别差异很大。
核心原因在于,真空环境主要用来消除空气和杂质的影响。研究表明,即使在10⁻⁷托(约1.33×10⁻⁵ Pa)的真空下,气态微粒浓度仍然很高,但已能显著减少石英晶片表面吸附污染物,这对保证晶振的长期稳定性(如老化特性)至关重要。
下表整理了晶振在几个关键制造环节中典型的真空度要求或实际应用值:
| 生产环节 | 典型真空度范围 | 主要目的与说明 |
|---|---|---|
| 电极镀膜 (如蒸镀) |
超高真空10⁻⁵ Pa 至 10⁻⁶ Pa 量级 |
在晶片上沉积金属电极。需要极高真空来保证薄膜纯度、附着力和频率精度。 |
| 封装前烘烤除气 |
中高真空 约 -0.1 MPa(约-760 Torr或1.33×10⁻² Pa) |
在密封前,于真空烘箱中加热组件,去除吸附的水汽和气体。 |
| 真空密封封装 |
中真空5×10⁻² Pa 至 1.1×10⁻³ Pa 量级 |
在充满氮气的腔室内抽真空后密封,可显著改善晶振的电阻等指标。某些封焊设备真空室要求达-0.1 MPa。 |
推荐阅读